瞬態(tài)平面導(dǎo)熱系數(shù)測定儀 庫存 D200077 瞬態(tài)平面導(dǎo)熱系數(shù)測定儀 庫存 D200077
瞬態(tài)平面導(dǎo)熱系數(shù)測定儀 型號:ATS-DRS-D庫號：D200077
本產(chǎn)品是利用瞬態(tài)平面熱源技術(shù)（TPS）開發(fā)的導(dǎo)熱系數(shù)測試儀,可用于各種不同類型材料的熱傳導(dǎo)性能的測試。瞬態(tài)平面熱源法是研究熱傳導(dǎo)性能方法中型的一種，它使測量技術(shù)達到了一個全新的水平。在研究材料時能夠快速準(zhǔn)確的測量熱導(dǎo)率，為企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控、材料以及實驗室研究提供了的方便。 該儀器操作方便，方法簡單易懂，不會對被測樣品造成損壞。 工作原理 瞬態(tài)平面熱源技術(shù)(TPS)是用于測量導(dǎo)熱系數(shù)的一種的方法，由瑞典Chalmer 理工大學(xué)的 Silas Gustafsson 教授在熱線法的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的。它 測定材料熱物性的原理是基于大介質(zhì)中階躍加熱的圓盤形熱源產(chǎn)生的瞬態(tài)溫度響應(yīng)。利用熱阻性材料做成一個平面的探頭，同時作為熱源和溫度傳感器。合金的熱阻系數(shù)一溫度和電阻的關(guān)系呈線性關(guān)系，即通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從而反映了樣品的導(dǎo)熱性能。該方法的探頭即是采用導(dǎo)電合金經(jīng)刻蝕處理后形成的連續(xù)雙螺旋結(jié)構(gòu)薄片，外層為雙層的絕緣保護層，厚度很薄， 它令探頭具有一定的機械強度并保持與樣品之間的電絕緣性。在測試過程中，探頭被放置于樣品中間進行測試。電流通過探頭時，產(chǎn)生一定的溫度上升，產(chǎn)生的熱量同時向探頭兩側(cè)的樣品進行擴散，熱擴散的速度依賴于材料的熱傳導(dǎo)特性。通過記錄溫度與探頭的響應(yīng)時間，由數(shù)學(xué)模型可以直接得到導(dǎo)熱系數(shù)。 測試對象 金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、復(fù)合材料、紙、織物、泡沫塑料（表面平整的隔熱材料、板材）、礦物棉、水泥墻體、玻璃增強復(fù)合板 CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼面板復(fù)合板材、紙蜂窩板、膠體、液體、粉末、顆粒狀和膏狀固體等等，測試對象。 產(chǎn)品特點 1、儀器參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2 2008 2、測試范圍，測試性能穩(wěn)定，在同類儀器中，處于水平； 3、直接測量，測試時間 5-160s 左右可設(shè)置，能快速準(zhǔn)確的測出導(dǎo)熱系數(shù)，節(jié)約 了大量的時間； 4、不會和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響； 5、無須特別的樣品制備，對樣品形狀并無特殊要求，塊狀固體只需相對平滑的 樣品表面并且滿足長寬至少為探頭直徑的兩倍即可； 6、對樣品實行無損檢測，意味著樣品可以重復(fù)使用； 7、探頭采用雙螺旋線的結(jié)構(gòu)進行設(shè)計，結(jié)合專屬數(shù)學(xué)模型，利用算法對探 頭上采集的數(shù)據(jù)進行分析計算； 8、樣品臺的結(jié)構(gòu)設(shè)計巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時簡潔美 觀； 9、探頭上的數(shù)據(jù)采集使用了進口的數(shù)據(jù)采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測 試結(jié)果加準(zhǔn)確； 10、主機的控制系統(tǒng)使用了 ARM 微處理器，運算速度比傳統(tǒng)的微處理器快，提高 了系統(tǒng)的分析處理能力，計算結(jié)果加； 11、儀器可用于塊狀固體、膏狀固體、顆粒狀固體、膠體、液體、粉末、涂層、 薄膜、保溫材料等熱物性參數(shù)的測定； 12、智能化的人機界面，彩色液晶屏顯示，觸摸屏控制，操作方便簡潔； 13、強大的數(shù)據(jù)處理能力。高度自動化的計算機數(shù)據(jù)通訊和報告處理系統(tǒng)。 技術(shù)特點 1. 測試范圍：0.0001-300W/(m*K)。 2. 測量樣品溫度范圍：室溫（可選擇室溫-230℃）。 3. 探頭直徑：一號探頭 7.5mm；二號探頭 15mm；三號探頭 30mm。 4. 導(dǎo)熱精度：優(yōu)于 2%。 5. 重復(fù)性：≤3%。 6. 測量時間：5-160 秒。 7. 電源：AC，220V。 8. 整機功率：﹤100W。 9. 實驗艙：一體化機身，實驗艙內(nèi)置 樣品溫升﹤15℃ 測試樣品功率 P： 一號探頭功率 0 樣品規(guī)格：一號探頭所測單個樣品（不小于7.5*7.5*3.75mm） 二號探頭所測單個樣品 (不小于 15*15*7.5mm) 三號探頭所測單個樣品 (不小于 60*60*2mm) 注：1號探頭所測的是厚度較薄的低導(dǎo)材料 。 如所測樣品表面光滑平整且具有粘性可將樣品進行疊加
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