方塊電阻測試儀 庫存 庫號：M397541 方塊電阻測試儀 庫存 庫號：M397541 方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。該儀器以大規(guī)模集成電路為主要；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。特點1采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗；2以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰；3采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；5特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測材料及保護薄膜6探頭帶抗靜電模塊技術指標測量范圍按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；小分辨率：0.01Ω/□恒流源測量過程誤差：≤±0.8%模數(shù)轉換器量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕顯示；極性，量程均自動顯示；小數(shù)點同步顯示；測量不確定度在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%四探針探頭規(guī)格間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ電源9V疊層電池1節(jié)
|
點擊放大