光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀 現(xiàn)貨 光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀 現(xiàn)貨 CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源： ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入幅度：20-700mV
頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源： ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入幅度：20-700mV
頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源： ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入幅度：20-700mV
頻率范圍:≥320。
CDNY-03AM是專為光學(xué)鍍膜設(shè)計(jì)的新一代光學(xué)膜層厚度測(cè)量控制儀。本儀器由于采用窄帶頻率，因而對(duì)信號(hào)諧波和直流漂移具有*的抑制能力。
主要性能指標(biāo)及指標(biāo)
主信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入量程：0.5mV-500mV
信號(hào)頻率范圍:1KHz±5%
本機(jī)頻相噪聲:≤4nV/Hz(折合到輸入端)
性誤差: ≤0.1%
零點(diǎn)時(shí)源： ≤0.2%/h
參考信號(hào)通道：
信號(hào)輸入方式：?jiǎn)味私涣鬏斎?br />輸入幅度：20-700mV
頻率范圍:≥320。
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