高頻綜合測(cè)試儀（帶測(cè)試盒） 測(cè)試器。提供廠生產(chǎn)線或品管進(jìn)出貨檢驗(yàn)是高穩(wěn)定。高可靠度的精
密量測(cè)儀器，上采用增強(qiáng)圈數(shù)比的能力。可解決低偶合系數(shù)圈數(shù)比、圈數(shù)量測(cè)等問題。使量測(cè)結(jié)果
更加的確實(shí)與精華。
Meter:HM21-3252/3302除了提供您掃描的測(cè)試功能外，也提供LCR量測(cè)功能，不僅操作便利。也可降低生產(chǎn)設(shè)
備成本，為提供客戶操作及使用的便利性。另設(shè)計(jì)多種規(guī)格的測(cè)試治具。也接受客戶的特殊規(guī)格訂做。讓您的
量測(cè)過(guò)程，更加便利。
主要特征：
■ 測(cè)試頻率20Hz~200KHz/1MHz,度0.02% ■ 高速LCR量測(cè)，zui快80次/秒
■ 3種阻抗輸出模式選擇，量測(cè)結(jié)果與各家LCR*比對(duì) ■ 基本量測(cè)準(zhǔn)確度0.1%
■ 增強(qiáng)式圈數(shù)比準(zhǔn)確量測(cè)，適用于低磁導(dǎo)率的磁心 ■ 高速DCR量測(cè)，zui快50次/秒
■ 1320-20A偏壓電流源直流控制功能（謹(jǐn)適用于3252/3302） ■ 提供各式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試治具及特殊治具訂制
■ 四端測(cè)試治具，可得到DCR，電感量和圈數(shù)比的且穩(wěn)定的量測(cè) ■ 15組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫
■ 內(nèi)建式比較器，10級(jí)分類及計(jì)數(shù)功能（謹(jǐn)適用于3252/3302） ■ 標(biāo)準(zhǔn)RS-232.HANDLER及PPINTER界面
■ 2MSRAM記憶卡供機(jī)臺(tái)資料設(shè)定及備份（可選購(gòu)）
測(cè)試系統(tǒng)規(guī)格表
型號(hào)
HM21-3250/3300
HM21-3252/3302
主要功能
掃描測(cè)試
掃描測(cè)試+LCR測(cè)試
測(cè)試參數(shù)
掃描測(cè)試
圈數(shù)比(Turn Ratio),相位(Phase),圈數(shù)(Turn),電感(L),漏電感(LK)<平衡(Balance)交流電阻(ACR), 電容(Cp),直流電阻(DCR),接腳短路(Pin Short）
LCR測(cè)試
電感(L), 電容(C), 電阻(R), 直流電阻(DCR) 因子(Q),阻抗值（|Z|）阻抗導(dǎo)納（Y）損耗因子（D）電抗（X）相位角（⊙）
測(cè)試信號(hào)
測(cè)試電壓
Turn
10mV-10V.10% 10mV/step
其他
10mV-2V ±10% 10mV/step
測(cè)試頻率
Turn
HM21-3250,HM21-3252:1KHz-200KHz,0.02%/3300,3302:1KHz-1MHz,0.02%/解析度：0.01Hz(＜1KHz)
其他
HM21-3250,HM21-3252:20Hz-200KHz,0.02%/3300,3302:20Hz-1MHz,0.02%/解析度：0.01Hz(＜1KHz)
輸出阻抗
Turn
10Ω，當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)≤2V 50Ω，當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)>2V
其他
Constant=OFF, Constant=320X:100Ω ±5%, Constant=107X:25Ω ±5%,
Constant=106X:100mA ±5%(1V設(shè)定), 電感負(fù)載小于己于10Ω，10Ω±10%，阻抗≥10Ω
測(cè)量顯示范圍
L.LK/C/Q.D/
L,LK:0.00001uH-9999.9H C:0.00001Pf-999.999mf Q.D:0.00001-99999
Z.X.R/ Y/⊙
Z.X.P:0.00001Ω-99999MΩ Y:0.01Ns-99.9999S ⊙:-90.00-+90.00
DCR/ Turn
DCR:0.01mΩ-99.999MΩ Turn:0.01-99999.99圈(次電壓小于100Vrms)
Pin-Short
11組,接地與接腳之間
基本準(zhǔn)確度
L.LK.C.Z.X.R.DCR
0.1%(若為AC參數(shù)1KHZ)
Q.D/⊙/ Turn
Q.D:0.0005(1KHz) ⊙:0.03(1KHz) Turn:0.5%(1KHz)
測(cè)量速度（zui快速）
L.LK.C.Z.X.R.D.⊙
80meas./sec
DCR
50meas./sec
Turn
10meas./sec
判定方式
掃描測(cè)試
各參數(shù)之良品/不良品判定由選購(gòu)之HANDLER界面輸出
LCR測(cè)試
10級(jí)分類及總合計(jì)數(shù)由標(biāo)準(zhǔn)HANDLER界面輸出
良品/不良品判定由標(biāo)準(zhǔn)HANDLER界面輸出
320X240點(diǎn)矩陣LCD液晶
修正功能
開路(OPEN)/短路(SHORT)歸零,負(fù)載修正
記憶卡
15組儀器設(shè)定,可籍由記憶卡擴(kuò)充
等效電路模式
串聯(lián). 并聯(lián)
觸發(fā)
內(nèi)部 手動(dòng) 外部
環(huán)境條件
溫度:10℃~40℃ 濕度:10%~90%PH
消耗功率
zui大140VA
電源需求
90-125Vac OR 190-250Vac 48Hz-62Hz
重量
約9Kg
尺寸(寬X高X深)
430x180x320mm
高頻綜合測(cè)試儀（帶測(cè)試盒）
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