光學(xué)膜厚控制儀（器材） 型號(hào):MN66-GM-X03 庫號(hào)：M12664
真空鍍膜，膜厚控制儀
本儀器是相位鎖定放大器，用于光學(xué)鍍膜膜層厚度測(cè)量和控制。它由主信號(hào)通道，參考信號(hào)通道和的四階低Q濾波組成，有很強(qiáng)的諧波抑制能力和動(dòng)態(tài)儲(chǔ)備，能測(cè)量深埋于噪聲或直流漂移中微弱的信號(hào)幅度和相位。
采用進(jìn)品高精密元件制作和DAAS是數(shù)字頻譜分析系統(tǒng)測(cè)試，確保儀器具有可靠的質(zhì)量和*的性能。
高穩(wěn)定性。操作簡(jiǎn)便，實(shí)用性強(qiáng)
參數(shù)：
GM-X03
主信號(hào)通道：電壓?jiǎn)味溯斎?br />滿程靈敏度：0.5mV~500mV
頻率范圍：1KHz,±5%
鎖相噪聲：≦4nV
線性誤差：≦1%
零點(diǎn)漂移：0.2%（小時(shí)）
參考信號(hào)通道：電壓?jiǎn)味溯斎?br />輸入幅度：20mV~700mV
頻率范圍：1KHz,±5%
相位鎖定范圍：≧320°
電源電壓：220VAC/50Hz
外形尺寸：寬482x高89x深322（mm）/標(biāo)準(zhǔn)2U面板
凈重：7.5Kg
光學(xué)膜厚控制儀（器材） 型號(hào):MN66-GM-X03
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